渦流測厚儀 型號:H15324    

 H15324    型渦流測厚儀 是DP-ED300型測厚儀的改進型，儀器性能大幅度提高。
      儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁材料、鋁工件表面的陽極氧化膜或涂層厚度，以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。
      儀器適于在生產現場、銷售現場或施工現場對產品進行快速、無損的膜厚檢查， 可用于生產檢驗、驗收檢驗和質量監督檢驗。
      儀器符合國家標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流法》。
儀器特點
       H15324    型與型相比，具有如下特點：
＊量程寬   H15324    型的量程達到0～500μm。
＊精度高   H15324    型的測量精度達到2%。
＊分辨率高   H15324    型的分辨率達到0.1μm。
＊校正簡便   只校正“0"和“50μm"兩點，即可在全量程范圍內保證設計精度。
＊基體導電率影響小   基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時，測量
   誤差不大于1～2μm。
＊可靠性提高   采用高集成度、高穩定性電子器件，電路結構優化，儀器可靠性
   提高。
＊穩定性提高   采用先進的溫度補償技術，測量值隨環境溫度的變化很小。儀器
   校正一次可在生產現場長期使用。
＊探頭線壽命長   采用德國進口的，在德國測厚儀上使用的探頭線，探頭線壽命
   可大大延長。
＊探頭芯壽命長   采用高強度磁芯材料，微調了探頭設計，探頭芯壽命可大大延
   長。
＊探頭可互換   外接式探頭，探頭損壞后，使用者可自行更換備用探頭。儀器無
   需返廠維修。

測量范圍：     0～500μm
測量精度：     0～50μm：±1μm；
                    50～500μm：±2%
分 辨 率：     0～50μm：0.1μm、
                    50～500μm：1μm；
                    0～500μm：1μm（可選）
使用溫度：     5～45℃
外形尺寸：     150mm×80mm×30mm
重      量：     260g

2.引力常量實驗儀  常量實驗儀 型號：H15322    

根據卡文迪許的扭稱實驗結構進行改進、小型化的儀器。用于演示觀察物體之間存在相互作用力的現象，測量萬有引力恒量G。

儀器參數：

可定性演示驗證萬有引力的存在，可定量測量引力常量G值，實驗相對誤差﹤5%。

3.可調電熱板  型號：H15320      

產品介紹：

用途概述：

       適用于實驗室、工礦企業、科研單位加熱之用。

產品特點：
1、均采用封閉式加熱,加熱無明火。
2、采用可控硅無級調功，適用于不同加熱溫度。
3、外殼采用靜電噴涂工藝，涂層牢固、美觀。

4.光纖光柵傳感實驗儀 傳感實驗儀 實驗儀 型號：H15313    

光纖光柵傳感實驗儀包括光纖光柵測試單元和光纖光柵傳感單元，并配有專用測試軟件，計算機RS232接口。手動波長掃描，手工或計算機繪制光纖傳感波形、波長峰值移動

量測量，進而測量出光纖光柵兩大基本傳感參量-溫度及應變。本實驗儀中，摻Er光纖ASE寬待光源和放大器可以獨立使用。

主要特點：

美國進口摻Er光纖ASE寬帶光源

波長范圍：1525-1565nm(C波段)寬帶光源和放大器可獨立使用。

性能指標：

波長掃描方式：手動  記錄方式：手動、自動 應變傳感分辨率：<10με，范圍：0~5000με

溫度傳感分辨率：<1℃，范圍：室溫~70℃

成套性：光纖光柵測試單元、光纖光柵傳感單元

5.棉花水分儀　型號：H15312    

測定原理：引進日本先進技術，采用高周波原理制成。根據被測物不同，設有多種測量轉換開關。具有測量水分范圍寬、精度高、體積小、重量輕、操作簡便等特點，可在現場快速測定被測物水分。該儀器適用于測量棉花等水分。

★技術性能：

u測量水分范圍：0~80%

u精    度：0%~10%    精度：±0.2%

10%~40%   精度：±0.5%

40%~80%   精度：±1%

u顯示時間：1秒

u顯    示：3?位LCD液晶數字顯示

u探針長度：200mm

u溫度補償：-10℃~+100℃

u電    源：9V（6F22型）積層電池

u體    積：160mm×60mm×27mm

u重    量：200克

以上參數資料與圖片相對應